Nichts bleibt verborgen! Die AOI-Datenauswertung macht es möglich.

Stellen Sie sich vor, alle Informationen über den AOI-Ablauf stehen Ihnen jederzeit zur Verfügung.  Sie können all diese Informationen abrufen und lückenlos alles nachvollziehen. Die AOI-Datenauswertung macht es möglich. Es bleibt nichts mehr verborgen.

Haben Sie sich schon gefragt, warum der Durchsatz im AOI-Bereich unter Ihren Erwartungen bleibt? Meistens lautet die Antwort im AOI: Die Anlage zeigt zu viele Fehler; die Anlage ist zu langsam u. s. w.

Sie möchten aber den wahren Grund wissen?

Wie lange braucht z. B. die AOI-Anlage für das Testen eines Loses? Wie viele Fehler gab es heute durchschnittlich pro Los oder pro Seite? Wie oft die Anlage heute still gestanden ist bzw. ob es beim Testen zu viele kleine Pausen dazwischen lagen?

Sie haben Zugriff auf alle Informationen: die Durchsatzzahlen pro Tag, Monat oder Schicht, die Scanzeit pro Seite, die durchschnittliche Fehlerzahl pro Los oder pro Scan, die Maschinenauslastung (Produktionszeit und Stillzeit der Anlage) oder wann ein Los zum Testen gestartet wurde und wann es fertig war - alles ist möglich. Sie können all diese Informationen abrufen, es bleibt nichts mehr verborgen. Die AOI-Datenauswertung sorgt für mehr Transparenz im AOI-Bereich und macht alles sichtbar. Das erleichtert das Erkennen von Problemen in vorherigen Fertigungsschritten und vereinfacht Ihre Kapazitätsplanung im AOI-Bereich.

Kommt es manchmal vor, dass nach dem elektrischen Test mehrere Panels wegen Innenlagenfehler ausgefallen sind? Wissen Sie, das alle Änderungen im AOI-Programm für jedes getestete Los abrufbar sind? Auch wenn diese Änderungen vom Operator nicht gespeichert wurden. So können Sie jederzeit nachvollziehen, mit welchen Programm-Einstellungen, wann und wie ein Panel oder ein Los getestet wurde und gleichzeitig mit den empfohlenen Programm-Einstellungen vergleichen. Zusätzlich wird auch angezeigt, ob die minimale Leiterbahnbreite beim Testen dem Sollwert entsprach oder vom Operator zu niedrig gesetzt wurde.

Fehleralarm beim Testen? Gibt es eventuell ein Problem in einem Vorprozess, was im AOI viele Fehler verursacht? Mit der Funktion "Fehlerverteilung auf dem Panel" können Sie gezielt nach der Ursache suchen.

Die Verteilung der Fehler und die Fehlerart auf dem gesamten Los oder für einzelne Panels werden grafisch dargestellt (siehe Bild) und hilft Ihnen bei der Suche nach der Ursache:

• Sind die Fehler nur seitlich auf dem Panel konzentriert - kann es an der Stanze liegen.

• Fehlt in jedem PCB z. B. ein Pad, eine Clearance oder ein anderes 'Feature' - liegt womöglich an LDI (verursacht durch ein Attribut in den CAM-Daten, welches LDI nicht "übersetzen" kann. Die Fehlerverteilung würde in jedem PCB an der gleichen Stelle ein "Missing"-Fehler anzeigen.

• Sind zu viele Cu-Rückstände auf die Panels, die alle im gleichen Bereich vorkommen oder zu viele Leiterbahn- bzw. Islolationsabstandfehler, dann liegt es womöglich an der Ätzanlage.

• Wenn die Fehler immer im gleichen Bereich des PCB's konzentriert sind, kann es auch an den CAM-Daten liegen, z. B. wenn der Isolationsabstand oder die Leiterbahnbreite außer Toleranz liegen.

Sie können auch alle Lose anzeigen lassen, die eine zu hohe durchschnittliche Fehlerzahl pro Scan aufweisen. Die durchschnittliche Fehlerzahl pro Scan spiegelt die Eingangsqualität der Leiterplatten im AOI.
Sie haben die Möglichkeit, diese Entwicklung pro Tag (Monatsübersicht) oder pro Monat (Jahresübersicht) zu verfolgen.

Mehr über die AOI-Datenauswertung lesen Sie hier.